Communication Dans Un Congrès
Année : 2010
Sébastien de Rossi : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal-iogs.archives-ouvertes.fr/hal-00598045
Soumis le : vendredi 3 juin 2011-15:07:05
Dernière modification le : vendredi 19 avril 2024-16:18:54
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00598045 , version 1
Citer
P. Jonnard, H. Hu, Jean-Michel André, Franck Delmotte, Evgueni Meltchakov, et al.. In-depth and surface characterization of Al/Mo/SiC multilayers. The 10th International Conference
on the
Physics of X-RayMultilayer Structures, Feb 2010, Big Sky Resort (Montana), United States. ⟨hal-00598045⟩
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