Submicron-diameter semiconductor pillar microcavities with very high quality factors

Guillaume Lecamp 1 Jean-Paul Hugonin 1 Philippe Lalanne 1 Rémy Braive 2 Spyros Varoutis 2 Sabine Laurent 2 Aristide Lemaître 2 Isabelle Sagnes 2 Gilles Patriarche 2 Isabelle Robert-Philip 2 Izo Abram 2
1 Laboratoire Charles Fabry de l'Institut d'Optique / Naphel
LCFIO - Laboratoire Charles Fabry de l'Institut d'Optique
2 LPN - Laboratoire de photonique et de nanostructures
Abstract : Pillar microcavities are subject to two common fabrication artifacts: Bragg mirror corrugation and oxide deposit cladding. In this letter the authors investigate the impact of these features on the quality factor. A quasiperiodic variation of the quality factor as a function of the pillar diameter is experimentally observed and well described by theory. Moreover, observation of quality factors in excess of 1500, close to the theoretical limit, is reported for 600-nm-diameter GaAs micropillars bounded by AlGaAs/GaAs Bragg mirrors.
Type de document :
Article dans une revue
Applied Physics Letters, American Institute of Physics, 2007, 90 (9), pp.091120. 〈10.1063/1.2711186〉
Liste complète des métadonnées

Littérature citée [1 références]  Voir  Masquer  Télécharger
https://hal-iogs.archives-ouvertes.fr/hal-00877855
Contributeur : Fatima Pereira <>
Soumis le : mardi 29 octobre 2013 - 11:50:17
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:26:11
Document(s) archivé(s) le : vendredi 7 avril 2017 - 18:35:12

Fichier

18B_00200.pdf
Fichiers éditeurs autorisés sur une archive ouverte

Identifiants

Collections

IOGS | PARISTECH | LCFIO | LCF_NAPHEL

Citation

Guillaume Lecamp, Jean-Paul Hugonin, Philippe Lalanne, Rémy Braive, Spyros Varoutis, et al.. Submicron-diameter semiconductor pillar microcavities with very high quality factors. Applied Physics Letters, American Institute of Physics, 2007, 90 (9), pp.091120. 〈10.1063/1.2711186〉. 〈hal-00877855〉

Exporter

BibTeX TEI DC DCterms EndNote

Partager

Métriques

Consultations de la notice

578

Téléchargements de fichiers

129

Contact

support.ccsd.cnrs.fr
hal.support@ccsd.cnrs.fr
Logo CCSD