Bragg diffraction regime in thin semiconductor 2D refractive index gratings - Institut d'Optique Graduate School Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2009
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00587702 , version 1 (21-04-2011)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00587702 , version 1

Citer

Qiong He, Isabelle Zaquine, Régis André, Gérald Roosen, Robert Frey. Bragg diffraction regime in thin semiconductor 2D refractive index gratings. Topical Meeting Photorefractive Materials, Effects, and Devices Control of Light and Matter, Jun 2009, Bad-Honnef, Germany. pp.T6-4. ⟨hal-00587702⟩
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