 |
 |
Journal articles
Interface characteristics of Mo/Si and B4C/Mo/Si multilayers using non-destructive X-ray techniques
Hélène Maury
1
Philippe Jonnard
1
Jean-Michel André
1
Julien Gautier
2
Françoise Bridou
2
Franck Delmotte
2
Marie-Françoise Ravet-Krill
2
2
Laboratoire Charles Fabry de l'Institut d'Optique / Scop
LCFIO - Laboratoire Charles Fabry de l'Institut d'Optique
Hélène Maury 1
Author
Philippe Jonnard 1
Author
Jean-Michel André 1
Author IdHAL : jean-michel-andre ORCID : https://orcid.org/0000-0003-3639-1691
Julien Gautier 2
Author
1
LCPMR - Laboratoire de Chimie Physique - Matière et Rayonnement (11 Rue Pierre et Marie Curie 75231 Paris Cedex 05 - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR7614 (France)
- UPMC - Université Pierre et Marie Curie - Paris 6 (4 place Jussieu - 75005 Paris - France)
2
Laboratoire Charles Fabry de l'Institut d'Optique / Scop (France)
- LCFIO - Laboratoire Charles Fabry de l'Institut d'Optique (2, avenue Fresnel 91127 PALAISEAU cedex - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR8501 (France)
- IOGS - Institut d'Optique Graduate School (2 avenue Augustin Fresnel, 91127 Palaiseau Cedex - France)
- UP11 - Université Paris-Sud - Paris 11 (Bâtiment 300 - 91405 Orsay cedex - France)
Document type :
Journal articles
Domain :
Complete list of metadata
https://hal-iogs.archives-ouvertes.fr/hal-00575880
Contributor : Sébastien de Rossi Connect in order to contact the contributor
Submitted on : Friday, March 11, 2011 - 12:18:06 PM
Last modification on : Wednesday, September 16, 2020 - 5:42:39 PM
Contributor : Sébastien de Rossi Connect in order to contact the contributor
Submitted on : Friday, March 11, 2011 - 12:18:06 PM
Last modification on : Wednesday, September 16, 2020 - 5:42:39 PM
Identifiers
- HAL Id : hal-00575880, version 1
Collections
CNRS | LCF_SCOP | PARISTECH | LCFIO | IOGS | UPMC | LCPMR | INC-CNRS | SORBONNE-UNIVERSITE | SU-SCIENCES
Citation
Hélène Maury, Philippe Jonnard, Jean-Michel André, Julien Gautier, Françoise Bridou, et al.. Interface characteristics of Mo/Si and B4C/Mo/Si multilayers using non-destructive X-ray techniques. Surface Science, Elsevier, 2007, 601 (11), pp.2315-2322. ⟨hal-00575880⟩
Metrics
Record views