Reconstruction of sparse hyperspectral BRDF measurements preserving their physical and topological properties
Reconstruction de mesures de BRDF hyperspectrales éparses en préservant leurs propriétés physiques et topologiques
Résumé
The measurement of hyperspectral bidirectional reflectance distribution function (BRDF) of a material is a key issue in physically based spectral rendering. We present here a device for measuring BRDF, enabling high spectral sampling (sub-nanometric from 450 nm to 1100 nm) with the counterpart of sparser angular sampling. To overcome this problem, we propose an interpolation method that respects the physical and topological properties of the BRDF by construction. The characteristic properties of the material deduced from the interpolated data set correspond to the reference values obtained using dedicated measuring instruments.
La mesure de la fonction de distribution de la réflectivité bidirectionnelle hyperspectrale (BRDF) d'un matériau est une composante essentielle de la synthèse d'image hyperspectral physiquement réaliste. Nous présentons ici un dispositif de mesure de BRDF, permettant un échantillonnage spectral élevé (sub-nanométrique de 450 nm à 1100 nm) avec pour contrepartie un échantillonnage angulaire plus épars. Pour pallier ce problème, nous proposons une méthode d'interpolation qui respecte par construction les propriétés physiques et topologiques de la BRDF. Les propriétés caractéristiques du matériau déduites de l'ensemble des données interpolées correspondent aux valeurs de référence obtenues à l'aide d'instruments de mesure dédiés.
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