Evaluation of deep trap compensation ratio and recombination parameters by transient grating techniques

Arunas Kadys 1 Kestutis Jarašiunas 2 Philippe Delaye 3 David Verstraeten 4
1 Institute of Materials Science and Applied Research
2 Institute of Applied Research
3 Laboratoire Charles Fabry de l'Institut d'Optique / Manolia
LCFIO - Laboratoire Charles Fabry de l'Institut d'Optique
4 CSL - Centre Spatial de Liège
Type de document :
Communication dans un congrès
SPIE. Sixth International Conference on Advanced Optical Materials and Devices (AOMD-6), Aug 2008, Riga, Latvia. SPIE, 7142, pp.71420O.1-6, 2008, 〈10.1117/12.815623〉
Liste complète des métadonnées
https://hal-iogs.archives-ouvertes.fr/hal-00822705
Contributeur : Philippe Delaye <>
Soumis le : mercredi 15 mai 2013 - 11:25:51
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:26:20

Identifiants

Collections

IOGS | PARISTECH | LCFIO | LCF_MANOLIA

Citation

Arunas Kadys, Kestutis Jarašiunas, Philippe Delaye, David Verstraeten. Evaluation of deep trap compensation ratio and recombination parameters by transient grating techniques. SPIE. Sixth International Conference on Advanced Optical Materials and Devices (AOMD-6), Aug 2008, Riga, Latvia. SPIE, 7142, pp.71420O.1-6, 2008, 〈10.1117/12.815623〉. 〈hal-00822705〉

Exporter

BibTeX TEI DC DCterms EndNote

Partager

Métriques

Consultations de la notice

118

Contact

support.ccsd.cnrs.fr
hal.support@ccsd.cnrs.fr
Logo CCSD